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  1. 1
    Digital circuit testing and testability /
    di Lala, Parag K.
    Pubblicazione 1997
    Libro
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  2. 2
    Digital circuit testing and testability
    di Lala, Parag K.
    Pubblicazione 1997
    Libro
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  3. 3
    Fault-tolerance techniques for SRAM-Based FPGAs /
    di Kastensmidt, Fernanda Lima
    Pubblicazione 2006
    Libro
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  4. 4
    Introduction to noise-resilient computing
    Pubblicazione 2013
    Libro
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  5. 5
    Strain-engineered MOSFETs
    di Maiti, C. K.
    Pubblicazione 2013
    Libro
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  6. 6
    Digital circuit testing and testability
    di Lala, Parag K.
    Pubblicazione 1997
    Libro
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  7. 7
    Introduction to noise-resilient computing
    Pubblicazione 2013
    Libro
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  8. 8
    Strain-engineered MOSFETs
    di Maiti, C. K.
    Pubblicazione 2013
    Libro
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