Handbook of instrumentation and techniques for semiconductor nanostructure characterization /

Bewaard in:

Bibliografische gegevens
Andere auteurs:	Haight, Richard, Ross, Frances M., Hannon, James B.
Formaat:	Boek
Taal:	English
Gepubliceerd in:	New Jersey World Scientific 2012.
Reeks:	World Scientific series in materials and energy 1-2.
Onderwerpen:	Nanostructured materials. Nanoelectromechanical systems > Testing Electron microscopy. X-rays > Diffraction. Atom-probe field ion microscopy. Nanostructures > Handbooks, manuals, etc.
Tags:	Voeg label toe Geen labels, Wees de eerste die dit record labelt!

Het systeem is offline vanwege onderhoudswerken

Ons bibliotheek beheerssysteem is momenteel in onderhoud.

Reserveringen en beschikbaarheid van items momenteel niet beschikbaar. Met onze excuses. Contacteer ons voor hulp: