Стиль цитування APA (7-ме видання)

Haight, R., Ross, F. M., & Hannon, J. B. (2012). Handbook of instrumentation and techniques for semiconductor nanostructure characterization. World Scientific.

Чикаго стиль цитування (17-те видання)

Haight, Richard, Frances M. Ross, та James B. Hannon. Handbook of Instrumentation and Techniques for Semiconductor Nanostructure Characterization. New Jersey: World Scientific, 2012.

Стиль цитування MLA (8-ме видання)

Haight, Richard, et al. Handbook of Instrumentation and Techniques for Semiconductor Nanostructure Characterization. World Scientific, 2012.