Handbook of instrumentation and techniques for semiconductor nanostructure characterization /

Handbook of instrumentation and techniques for semiconductor nanostructure characterization /

अन्य संस्करण दिखाएं (2)
में बचाया:
ग्रंथसूची विवरण
अन्य लेखक: Haight, Richard, Ross, Frances M., Hannon, James B.
स्वरूप: पुस्तक
भाषा:English
प्रकाशित: New Jersey World Scientific 2012.
श्रृंखला:World Scientific series in materials and energy 1-2.
विषय:
Nanostructured materials.
Nanoelectromechanical systems > Testing
Electron microscopy.
X-rays > Diffraction.
Atom-probe field ion microscopy.
Nanostructures > Handbooks, manuals, etc.
टैग : टैग जोड़ें
कोई टैग नहीं, इस रिकॉर्ड को टैग करने वाले पहले व्यक्ति बनें!
Search Result 1
Handbook of instrumentation and techniques for semiconductor nanostructure characterization
प्रकाशित 2012
पुस्तक
सूची में सहेजें
में बचाया:
Search Result 2
Handbook of instrumentation and techniques for semiconductor nanostructure characterization
प्रकाशित 2012
पुस्तक
सूची में सहेजें
में बचाया:
सभी संस्करण दिखाएं (3)

समान संसाधन