Infrared ellipsometry on semiconductor layer structures phonons, plasmons, and polaritons /

Պահպանված է:

Մատենագիտական մանրամասներ
Հիմնական հեղինակ:	Schubert, Mathias (Հեղինակ)
Համատեղ հեղինակ:	SpringerLink (Online service)
Ձևաչափ:	էլ․ գիրք
Լեզու:	English
Հրապարակվել է:	Berlin, Heidelberg Springer 2005.
Շարք:	Springer Tracts in Modern Physics, 209
Խորագրեր:	Engineering Optical materials Physical optics Surfaces (Physics) Chemistry
Առցանց հասանելիություն:	Click here to view the full text content
Ցուցիչներ:	Ավելացրեք ցուցիչ Չկան պիտակներ, Եղեք առաջինը, ով նշում է այս գրառումը!

Նմանատիպ նյութեր