Infrared ellipsometry on semiconductor layer structures phonons, plasmons, and polaritons /
محفوظ في:
المؤلف الرئيسي: | Schubert, Mathias (مؤلف) |
---|---|
مؤلف مشترك: | SpringerLink (Online service) |
التنسيق: | كتاب الكتروني |
اللغة: | English |
منشور في: |
Berlin, Heidelberg
Springer
2005.
|
سلاسل: | Springer Tracts in Modern Physics,
209 |
الموضوعات: | |
الوصول للمادة أونلاين: | Click here to view the full text content |
الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|
مواد مشابهة
-
Device physics of narrow gap semiconductors
بواسطة: Chu, Junhao
منشور في: (2010) -
Ellipsometry at the nanoscale /
منشور في: (2013) -
Transport in metal-oxide-semiconductor structures mobile ions effects on the oxide properties /
بواسطة: Bentarzi, Hamid
منشور في: (2011) - Mid-infrared semiconductor optoelectronics /
-
Basic semiconductor physics
بواسطة: Hamaguchi, Chihiro
منشور في: (2010)