Infrared ellipsometry on semiconductor layer structures phonons, plasmons, and polaritons /
Uloženo v:
| Hlavní autor: | |
|---|---|
| Korporativní autor: | |
| Médium: | E-kniha |
| Jazyk: | English |
| Vydáno: |
Berlin, Heidelberg
Springer
2005.
|
| Edice: | Springer Tracts in Modern Physics,
209 |
| Témata: | |
| On-line přístup: | Click here to view the full text content |
| Tagy: |
Přidat tag
Žádné tagy, Buďte první, kdo otaguje tento záznam!
|