Infrared ellipsometry on semiconductor layer structures phonons, plasmons, and polaritons /
Αποθηκεύτηκε σε:
| Κύριος συγγραφέας: | |
|---|---|
| Συγγραφή απο Οργανισμό/Αρχή: | |
| Μορφή: | Ηλ. βιβλίο |
| Γλώσσα: | English |
| Έκδοση: |
Berlin, Heidelberg
Springer
2005.
|
| Σειρά: | Springer Tracts in Modern Physics,
209 |
| Θέματα: | |
| Διαθέσιμο Online: | Click here to view the full text content |
| Ετικέτες: |
Προσθήκη ετικέτας
Δεν υπάρχουν, Καταχωρήστε ετικέτα πρώτοι!
|