Structural, syntactic, and statistical pattern recognition joint IAPR international workshop, SSPR&SPR 2010, Cesme, Izmir, Turkey, August 18-20, 2010. Proceedings /

Gorde:
Xehetasun bibliografikoak
Erakunde egilea: SpringerLink (Online service)
Beste egile batzuk: Hancock, Edwin R.
Formatua: eBook
Hizkuntza:English
Argitaratua: Berlin, Heidelberg Springer 2010.
Saila:Lecture Notes in Computer Science, 6218
Gaiak:
Sarrera elektronikoa:Click here to view the full text contentu
Etiketak: Etiketa erantsi
Etiketarik gabe, Izan zaitez lehena erregistro honi etiketa jartzen!

Sistema mantentze lanetan ari da

Mantentze lanak direla eta, gure Liburutegia Kudeatzeko Sistema ez dago erabilgarri.

Item-en erabilgarritasunari buruzko informazioa ez dabil momento honetan. Mesedez, barkatu eragozpenak. Nahi baduzu, kontakta dezakezu zerbitzu teknikoarekin laguntza gehiagorako:

david@pintaran.my

Internet

Click here to view the full text contentu