Characterization of Microstructures by Analytical Electron Microscopy (AEM) /

"Characterization of Microstructures by Analytical Electron Microscopy (AEM)" describes the basic concepts and operative techniques of AEM. It focuses on the study of phase transformations and dislocation in deformation by AEM. Further, the book also presents the physical concepts and math...

תיאור מלא

שמור ב:
מידע ביבליוגרפי
מחבר ראשי: Rong, Yonghua (Author)
מחבר תאגידי: SpringerLink (Online service)
פורמט: ספר אלקטרוני
שפה:English
יצא לאור: Berlin, Heidelberg Springer Berlin Heidelberg 2012.
נושאים:
גישה מקוונת:Click here to view the full text content
תגים: הוספת תג
אין תגיות, היה/י הראשונ/ה לתייג את הרשומה!

System Under Maintenance

Our Library Management System is currently under maintenance.

Holdings and item availability information is currently unavailable. Please accept our apologies for any inconvenience this may cause and contact us for further assistance:

david@pintaran.my

אינטרנט

Click here to view the full text content