Fault analysis in cryptography /

<p>In the 1970s researchers noticed that radioactive particles produced by elements naturally present in packaging material could cause bits to flip in sensitive areas of electronic chips. Research into the effect of cosmic rays on semiconductors, an area of particular interest in the aerospac...

תיאור מלא

שמור ב:
מידע ביבליוגרפי
מחבר תאגידי: SpringerLink (Online service)
מחברים אחרים: Tunstall, Michael, Joye, Marc
פורמט: ספר אלקטרוני
שפה:English
יצא לאור: Berlin, Heidelberg Springer Berlin Heidelberg 2012.
סדרה:Information Security and Cryptography
נושאים:
גישה מקוונת:Click here to view the full text content
תגים: הוספת תג
אין תגיות, היה/י הראשונ/ה לתייג את הרשומה!

System Under Maintenance

Our Library Management System is currently under maintenance.

Holdings and item availability information is currently unavailable. Please accept our apologies for any inconvenience this may cause and contact us for further assistance:

david@pintaran.my

אינטרנט

Click here to view the full text content