Atom probe microscopy /
<p>Atom probe microscopy enables the characterization of materials structure and chemistry in three dimensions with near-atomic resolution. This uniquely powerful technique has been subject to major instrumental advances over the last decade with the development of wide-field-of-view detectors...
Tallennettuna:
| Päätekijä: | |
|---|---|
| Yhteisötekijä: | |
| Muut tekijät: | , , |
| Aineistotyyppi: | E-kirja |
| Kieli: | English |
| Julkaistu: |
New York, NY
Springer New York
2012.
|
| Sarja: | Springer Series in Materials Science
160 |
| Aiheet: | |
| Linkit: | Click here to view the full text content |
| Tagit: |
Lisää tagi
Ei tageja, Lisää ensimmäinen tagi!
|
Järjestelmä pois käytöstä
Kirjastojärjestelmä on juuri nyt pois käytöstä.
Saatavuustiedot eivät ole juuri nyt käytettävissä. Pahoittelemme tästä aiheutunutta vaivaa. Voitte ottaa yhteyttä: