Factors governing tin whisker growth /
Tin (Sn) whiskers are electrically conductive, single crystal eruptions that grow from Sn film surfaces. Their high aspect ratio presents reliability problems for the electronics industry due to bridging and metal arcing, leading to malfunctions and catastrophic failures in many electronic systems (...
Сохранить в:
| Главный автор: | |
|---|---|
| Соавтор: | |
| Формат: | eКнига |
| Язык: | English |
| Опубликовано: |
Cham
Springer International Publishing
2013.
|
| Серии: | Springer Theses, Recognizing Outstanding Ph.D. Research
|
| Предметы: | |
| Online-ссылка: | Click here to view the full text content |
| Метки: |
Добавить метку
Нет меток, Требуется 1-ая метка записи!
|
Система на техническом обслуживании
Система поддержки библиотеки сейчас на техническом обслуживаении.
Задолженности и информация по доступности документа сейчас недоступна. Наши извенения за неудобства и обратитесь за советом: