Power-constrained testing of VLSI circuits /

Power-constrained testing of VLSI circuits /

Kaydedildi:
Detaylı Bibliyografya
Yazar: Nicolici, Nicola (Yazar)
Diğer Yazarlar: Al-Hashimi, Bashir M.
Materyal Türü: Kitap
Dil:English
Baskı/Yayın Bilgisi: Boston Kluwer c2003
Seri Bilgileri:Frontiers in electronic testing ;
Konular:
Integrated circuits, very large scale integration > Protection.
Integrated circuits > Very large scale integration > Testing.
Semiconductors > Thermal properties.
Etiketler: Etiketle
Etiket eklenmemiş, İlk siz ekleyin!
Diğer Bilgiler
Fiziksel Özellikler:xi, 178 pages: illustrations; 25 cm.
Bibliyografya:Includes bibliographical references (p. 163-173)
ISBN:140207235X

Benzer Materyaller