Power-constrained testing of VLSI circuits /
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格式: | 图书 |
语言: | English |
出版: |
Boston
Kluwer
c2003
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丛编: | Frontiers in electronic testing ;
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实物描述: | xi, 178 pages: illustrations; 25 cm. |
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参考书目: | Includes bibliographical references (p. 163-173) |
ISBN: | 140207235X |