Power-constrained testing of VLSI circuits /
সংরক্ষণ করুন:
প্রধান লেখক: | Nicolici, Nicola (Author) |
---|---|
অন্যান্য লেখক: | Al-Hashimi, Bashir M. |
বিন্যাস: | গ্রন্থ |
ভাষা: | English |
প্রকাশিত: |
Boston
Kluwer
c2003
|
মালা: | Frontiers in electronic testing ;
|
বিষয়গুলি: | |
ট্যাগগুলো: |
ট্যাগ যুক্ত করুন
কোনো ট্যাগ নেই, প্রথমজন হিসাবে ট্যাগ করুন!
|
অনুরূপ উপাদানগুলি
-
VLSI test principles and architectures : design for testability /
প্রকাশিত: (2006) -
Introduction to VLSI testing /
অনুযায়ী: Feugate, Robert J.
প্রকাশিত: (1988) -
VLSI testing : digital and mixed analogue/digital techniques /
অনুযায়ী: Hurst, Stanley L.
প্রকাশিত: (1998) -
VLSI testing : digital and mixed analogue/digital techniques /
অনুযায়ী: Hurst, Stanley L. -
The design and analysis of VLSI circuits /
অনুযায়ী: Glasser, Lance A.
প্রকাশিত: (1985)