Power-constrained testing of VLSI circuits /

Power-constrained testing of VLSI circuits /

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser:	Nicolici, Nicola (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Al-Hashimi, Bashir M.
Format:	Buch
Sprache:	English
Veröffentlicht:	Boston Kluwer c2003
Schriftenreihe:	Frontiers in electronic testing ;
Schlagworte:	Integrated circuits, very large scale integration > Protection. Integrated circuits > Very large scale integration > Testing. Semiconductors > Thermal properties.
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