Power-constrained testing of VLSI circuits /
Tallennettuna:
Päätekijä: | Nicolici, Nicola (Tekijä) |
---|---|
Muut tekijät: | Al-Hashimi, Bashir M. |
Aineistotyyppi: | Kirja |
Kieli: | English |
Julkaistu: |
Boston
Kluwer
c2003
|
Sarja: | Frontiers in electronic testing ;
|
Aiheet: | |
Tagit: |
Lisää tagi
Ei tageja, Lisää ensimmäinen tagi!
|
Samankaltaisia teoksia
-
VLSI test principles and architectures : design for testability /
Julkaistu: (2006) -
Introduction to VLSI testing /
Tekijä: Feugate, Robert J.
Julkaistu: (1988) -
VLSI testing : digital and mixed analogue/digital techniques /
Tekijä: Hurst, Stanley L.
Julkaistu: (1998) -
VLSI testing : digital and mixed analogue/digital techniques /
Tekijä: Hurst, Stanley L. -
The design and analysis of VLSI circuits /
Tekijä: Glasser, Lance A.
Julkaistu: (1985)