Power-constrained testing of VLSI circuits /
Salvato in:
Autore principale: | Nicolici, Nicola (Autore) |
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Altri autori: | Al-Hashimi, Bashir M. |
Natura: | Libro |
Lingua: | English |
Pubblicazione: |
Boston
Kluwer
c2003
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Serie: | Frontiers in electronic testing ;
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Soggetti: | |
Tags: |
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