Power-constrained testing of VLSI circuits /
Na minha lista:
Autor principal: | Nicolici, Nicola (Autor) |
---|---|
Outros Autores: | Al-Hashimi, Bashir M. |
Formato: | Livro |
Idioma: | English |
Publicado em: |
Boston
Kluwer
c2003
|
coleção: | Frontiers in electronic testing ;
|
Assuntos: | |
Tags: |
Adicionar Tag
Sem tags, seja o primeiro a adicionar uma tag!
|
Registros relacionados
-
VLSI test principles and architectures : design for testability /
Publicado em: (2006) -
Introduction to VLSI testing /
por: Feugate, Robert J.
Publicado em: (1988) -
VLSI testing : digital and mixed analogue/digital techniques /
por: Hurst, Stanley L.
Publicado em: (1998) -
VLSI testing : digital and mixed analogue/digital techniques /
por: Hurst, Stanley L. -
The design and analysis of VLSI circuits /
por: Glasser, Lance A.
Publicado em: (1985)