Power-constrained testing of VLSI circuits /

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Detalhes bibliográficos
Autor principal: Nicolici, Nicola (Autor)
Outros Autores: Al-Hashimi, Bashir M.
Formato: Livro
Idioma:English
Publicado em: Boston Kluwer c2003
coleção:Frontiers in electronic testing ;
Assuntos:
Integrated circuits, very large scale integration > Protection.
Integrated circuits > Very large scale integration > Testing.
Semiconductors > Thermal properties.
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