Power-constrained testing of VLSI circuits /
Збережено в:
Автор: | Nicolici, Nicola (Автор) |
---|---|
Інші автори: | Al-Hashimi, Bashir M. |
Формат: | Книга |
Мова: | English |
Опубліковано: |
Boston
Kluwer
c2003
|
Серія: | Frontiers in electronic testing ;
|
Предмети: | |
Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
Схожі ресурси
-
VLSI test principles and architectures : design for testability /
Опубліковано: (2006) -
Introduction to VLSI testing /
за авторством: Feugate, Robert J.
Опубліковано: (1988) -
VLSI testing : digital and mixed analogue/digital techniques /
за авторством: Hurst, Stanley L.
Опубліковано: (1998) -
VLSI testing : digital and mixed analogue/digital techniques /
за авторством: Hurst, Stanley L. -
The design and analysis of VLSI circuits /
за авторством: Glasser, Lance A.
Опубліковано: (1985)