Power-constrained testing of VLSI circuits /
Spremljeno u:
| Glavni autor: | |
|---|---|
| Daljnji autori: | |
| Format: | Knjiga |
| Jezik: | English |
| Izdano: |
Boston
Kluwer
c2003
|
| Serija: | Frontiers in electronic testing ;
|
| Teme: | |
| Oznake: |
Dodaj oznaku
Bez oznaka, Budi prvi tko označuje ovaj zapis!
|
Budi prvi tko komentira!