Power-constrained testing of VLSI circuits /

Power-constrained testing of VLSI circuits /

Պահպանված է:
Մատենագիտական մանրամասներ
Հիմնական հեղինակ: Nicolici, Nicola (Հեղինակ)
Այլ հեղինակներ: Al-Hashimi, Bashir M.
Ձևաչափ: Գիրք
Լեզու:English
Հրապարակվել է: Boston Kluwer c2003
Շարք:Frontiers in electronic testing ;
Խորագրեր:
Integrated circuits, very large scale integration > Protection.
Integrated circuits > Very large scale integration > Testing.
Semiconductors > Thermal properties.
Ցուցիչներ: Ավելացրեք ցուցիչ
Չկան պիտակներ, Եղեք առաջինը, ով նշում է այս գրառումը!
Եղիր առաջինը, ով թողնում է մեկնաբանություն!
Դուք նախ պետք է մուտք գործեք

Նմանատիպ նյութեր