Power-constrained testing of VLSI circuits /

Power-constrained testing of VLSI circuits /

Bewaard in:
Bibliografische gegevens
Hoofdauteur: Nicolici, Nicola (Auteur)
Andere auteurs: Al-Hashimi, Bashir M.
Formaat: Boek
Taal:English
Gepubliceerd in: Boston Kluwer c2003
Reeks:Frontiers in electronic testing ;
Onderwerpen:
Integrated circuits, very large scale integration > Protection.
Integrated circuits > Very large scale integration > Testing.
Semiconductors > Thermal properties.
Tags: Voeg label toe
Geen labels, Wees de eerste die dit record labelt!
Wees de eerste die reageert!
Je moet eerst inloggen

Gelijkaardige items