Power-constrained testing of VLSI circuits /

Kaydedildi:
Detaylı Bibliyografya
Yazar: Nicolici, Nicola (Yazar)
Diğer Yazarlar: Al-Hashimi, Bashir M.
Materyal Türü: Kitap
Dil:English
Baskı/Yayın Bilgisi: Boston Kluwer c2003
Seri Bilgileri:Frontiers in electronic testing ;
Konular:
Etiketler: Etiketle
Etiket eklenmemiş, İlk siz ekleyin!