Power-constrained testing of VLSI circuits /

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Detalhes bibliográficos
Autor principal: Nicolici, Nicola (Author)
Outros Autores: Al-Hashimi, Bashir M.
Formato: Livro
Idioma:English
Publicado em: Boston Kluwer c2003
Colecção:Frontiers in electronic testing ;
Assuntos:
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