Power-constrained testing of VLSI circuits /
Na minha lista:
| Autor principal: | |
|---|---|
| Outros Autores: | |
| Formato: | Livro |
| Idioma: | English |
| Publicado em: |
Boston
Kluwer
c2003
|
| coleção: | Frontiers in electronic testing ;
|
| Assuntos: | |
| Tags: |
Adicionar Tag
Sem tags, seja o primeiro a adicionar uma tag!
|
Sistema em Manutenção
O sistema está em manutenção.
A informação da disponibilidade do(s) exemplar(es) não está disponível de momento; por favor, aceite as nossas desculpas por qualquer inconveniente que isso possa causar e contate-nos para obter ajuda: