Power-constrained testing of VLSI circuits /

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Автор: Nicolici, Nicola (Автор)
Інші автори: Al-Hashimi, Bashir M.
Формат: Книга
Мова:English
Опубліковано: Boston Kluwer c2003
Серія:Frontiers in electronic testing ;
Предмети:
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!

Технічні роботи в бібліотечній системі

Наразі у нашій бібліотечній системі ведуться технічні роботи.

Замовлення та інформація про доступність примірників наразі недоступна. Приносимо наші вибачення. Зверніться до Бібліотеки за допомогою:

david@pintaran.my