Fabrication of silicon nanowires using scanning electron microscope based electron beam lithography method /
The goal of this research work is to form and produce very small nanowires using a Top-Down Nanofabrication Method which involved Scanning Electron Microscope (SEM) based Electron Beam Litography (EBL) method.
保存先:
| 第一著者: | |
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| 団体著者: | |
| フォーマット: | 学位論文 ソフトウェア eBook |
| 言語: | English |
| 出版事項: |
Kangar
Universiti Malaysia Perlis (UniMAP)
2007.
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| 主題: | |
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