Essentials of electronic testing for digital, memory, and mixed-signal VLSI circuits /

Essentials of electronic testing for digital, memory, and mixed-signal VLSI circuits /

Näytä muut versiot (3)
Tallennettuna:
Bibliografiset tiedot
Päätekijä: Bushnell, Michael L. (Michael Lee), 1950- (Tekijä)
Muut tekijät: Agrawal, Vishwani D., 1943-
Aineistotyyppi: Kirja
Kieli:English
Julkaistu: Boston Springer 2000.
Sarja:Frontiers in electronic testing; 17
Aiheet:
Integrated circuits > Very large scale integration > Testing.
Digital integrated circuits > Testing.
Mixed signal circuits > Testing.
Semiconductor storage devices > Testing.
Linkit:Click here to view the full text content
Tagit: Lisää tagi
Ei tageja, Lisää ensimmäinen tagi!
Kuvaus
Ulkoasu:xviii, 690 pages illustrations 26 cm.
Bibliografia:Bibliography : pages [631]-670
ISBN:0792379918 (hc)

Samankaltaisia teoksia