Essentials of electronic testing for digital, memory, and mixed-signal VLSI circuits /
সংরক্ষণ করুন:
প্রধান লেখক: | Bushnell, Michael L. (Michael Lee), 1950- (Author) |
---|---|
অন্যান্য লেখক: | Agrawal, Vishwani D., 1943- |
বিন্যাস: | গ্রন্থ |
ভাষা: | English |
প্রকাশিত: |
Boston
Springer
2000.
|
মালা: | Frontiers in electronic testing;
17 |
বিষয়গুলি: | |
অনলাইন ব্যবহার করুন: | Click here to view the full text content |
ট্যাগগুলো: |
ট্যাগ যুক্ত করুন
কোনো ট্যাগ নেই, প্রথমজন হিসাবে ট্যাগ করুন!
|
অনুরূপ উপাদানগুলি
-
Essentials of electronic testing for digital, memory, and mixed-signal VLSI circuits /
অনুযায়ী: Bushnell, Michael L.
প্রকাশিত: (2000) -
Essentials of electronic testing for digital, memory, and mixed-signal VLSI circuits
অনুযায়ী: Bushnell, Michael L.
প্রকাশিত: (2000) -
Essentials of electronic testing for digital, memory, and mixed-signal VLSI circuits
অনুযায়ী: Bushnell, Michael L.
প্রকাশিত: (2000) -
VLSI testing : digital and mixed analogue/digital techniques /
অনুযায়ী: Hurst, Stanley L.
প্রকাশিত: (1998) -
VLSI testing : digital and mixed analogue/digital techniques /
অনুযায়ী: Hurst, Stanley L.