Essentials of electronic testing for digital, memory, and mixed-signal VLSI circuits /

Essentials of electronic testing for digital, memory, and mixed-signal VLSI circuits /

Zobrazit další vydání (3)
Uloženo v:
Podrobná bibliografie
Hlavní autor: Bushnell, Michael L. (Michael Lee), 1950- (Autor)
Další autoři: Agrawal, Vishwani D., 1943-
Médium: Kniha
Jazyk:English
Vydáno: Boston Springer 2000.
Edice:Frontiers in electronic testing; 17
Témata:
Integrated circuits > Very large scale integration > Testing.
Digital integrated circuits > Testing.
Mixed signal circuits > Testing.
Semiconductor storage devices > Testing.
On-line přístup:Click here to view the full text content
Tagy: Přidat tag
Žádné tagy, Buďte první, kdo otaguje tento záznam!

Podobné jednotky

Podobné jednotky