Essentials of electronic testing for digital, memory, and mixed-signal VLSI circuits /

Essentials of electronic testing for digital, memory, and mixed-signal VLSI circuits /

Näytä muut versiot (3)

Tallennettuna:

Bibliografiset tiedot
Päätekijä:	Bushnell, Michael L. (Michael Lee), 1950- (Tekijä)
Muut tekijät:	Agrawal, Vishwani D., 1943-
Aineistotyyppi:	Kirja
Kieli:	English
Julkaistu:	Boston Springer 2000.
Sarja:	Frontiers in electronic testing; 17
Aiheet:	Integrated circuits > Very large scale integration > Testing. Digital integrated circuits > Testing. Mixed signal circuits > Testing. Semiconductor storage devices > Testing.
Linkit:	Click here to view the full text content
Tagit:	Lisää tagi Ei tageja, Lisää ensimmäinen tagi!

Samankaltaisia teoksia

Essentials of electronic testing for digital, memory, and mixed-signal VLSI circuits /
Tekijä: Bushnell, Michael L.
Julkaistu: (2000)

Essentials of electronic testing for digital, memory, and mixed-signal VLSI circuits
Tekijä: Bushnell, Michael L.
Julkaistu: (2000)

Essentials of electronic testing for digital, memory, and mixed-signal VLSI circuits
Tekijä: Bushnell, Michael L.
Julkaistu: (2000)

VLSI testing : digital and mixed analogue/digital techniques /
Tekijä: Hurst, Stanley L.
Julkaistu: (1998)

VLSI testing : digital and mixed analogue/digital techniques /
Tekijä: Hurst, Stanley L.

Power-constrained testing of VLSI circuits /
Tekijä: Nicolici, Nicola
Julkaistu: (2003)

VLSI test principles and architectures : design for testability /
Julkaistu: (2006)

VLSI test principles and architectures design for testability
Julkaistu: (2006)

VLSI test principles and architectures design for testability
Julkaistu: (2006)

VLSI test principles and architectures : design for testability /
Julkaistu: (2006)

Iddq testing for CMOS VLSI /
Tekijä: Rajsuman, Rochit
Julkaistu: (1995)

Digital circuit testing and testability /
Tekijä: Lala, Parag K.
Julkaistu: (1997)

Design & test techniques for VLSI & WSI circuits
Julkaistu: (1989)

Design & test techniques for VLSI & WSI circuits
Julkaistu: (1989)

Genetic algorithms for VLSI design, layout and test automation /
Tekijä: Mazumder, Pinaki
Julkaistu: (1999)

Mixed analog-digital VLSI devices and technology /
Tekijä: Tsividis, Yannis
Julkaistu: (2002)

Mixed analog-digital VLSI devices and technology /
Tekijä: Tsividis, Yannis
Julkaistu: (2002)

Nanometer technology designs : high-quality delay tests /
Tekijä: Tehranipoor, Mohammad
Julkaistu: (2008)

VLSI-design of non-volatile memories /
Tekijä: Campardo, Giovanni
Julkaistu: (2005)

High-level test synthesis of digital VLSI circuits /
Tekijä: Lee, Mike Tien - Chien
Julkaistu: (1997)

Wafer-level testing and test during burn-in for integrated circuits / Sudarshan Bahukudumbi, Krishnendu Chakrabarty.
Tekijä: Bahukudumbi, Sudarshan
Julkaistu: (2010)

High-Level synthesis of digital VLSI circuits /
Tekijä: Lee, Mike Tien-Chien
Julkaistu: (1997)

Introduction to VLSI testing /
Tekijä: Feugate, Robert J.
Julkaistu: (1988)

Genetic algorithms for VLSI design, layout & test automation
Tekijä: Mazumder, Pinaki
Julkaistu: (1999)

Genetic algorithms for VLSI design, layout and test automation /
Tekijä: Mazumder, Pinaki
Julkaistu: (1999)

Genetic algorithms for VLSI design, layout & test automation
Tekijä: Mazumder, Pinaki
Julkaistu: (1999)

Mixed analog-digital VLSI devices and technology
Tekijä: Tsividis, Yannis
Julkaistu: (2002)

Mixed analog-digital VLSI devices and technology
Tekijä: Tsividis, Yannis
Julkaistu: (2002)

Mixed analog-digital VLSI devices and technology /
Tekijä: Tsividis, Yannis
Julkaistu: (2002)

An introduction to mixed-signal IC test and measurement
Tekijä: Burns, Mark
Julkaistu: (2001)

An introduction to mixed-signal IC test and measurement
Tekijä: Burns, Mark
Julkaistu: (2001)

Digital circuit testing and testability
Tekijä: Lala, Parag K.
Julkaistu: (1997)

Digital circuit testing and testability
Tekijä: Lala, Parag K.
Julkaistu: (1997)

VLSI digital signal processing systems : design and implementation /
Tekijä: Parhi, Keshab K.
Julkaistu: (1999)

VLSI digital signal processing systems : design and implementation /
Tekijä: Parhi, Keshab K, 1959-
Julkaistu: (1999)

VLSI digital signal processing systems design and implementation
Tekijä: Parhi
Julkaistu: (1999)

VLSI digital signal processing systems design and implementation
Tekijä: Parhi
Julkaistu: (1999)

Genetic algorithm for very large scale integration (VLSI) test generation
Tekijä: Wong, Yan Chiew
Julkaistu: (2009)

Genetic algorithm for very large scale integration (VLSI) test generation
Tekijä: Wong, Yan Chiew
Julkaistu: (2009)

The design and analysis of VLSI circuits /
Tekijä: Glasser, Lance A.
Julkaistu: (1985)