Essentials of electronic testing for digital, memory, and mixed-signal VLSI circuits /

Essentials of electronic testing for digital, memory, and mixed-signal VLSI circuits /

Toon andere (3) versies

Bewaard in:

Bibliografische gegevens
Hoofdauteur:	Bushnell, Michael L. (Michael Lee), 1950- (Auteur)
Andere auteurs:	Agrawal, Vishwani D., 1943-
Formaat:	Boek
Taal:	English
Gepubliceerd in:	Boston Springer 2000.
Reeks:	Frontiers in electronic testing; 17
Onderwerpen:	Integrated circuits > Very large scale integration > Testing. Digital integrated circuits > Testing. Mixed signal circuits > Testing. Semiconductor storage devices > Testing.
Online toegang:	Click here to view the full text content
Tags:	Voeg label toe Geen labels, Wees de eerste die dit record labelt!

Gelijkaardige items

Essentials of electronic testing for digital, memory, and mixed-signal VLSI circuits /
door: Bushnell, Michael L.
Gepubliceerd in: (2000)

Essentials of electronic testing for digital, memory, and mixed-signal VLSI circuits
door: Bushnell, Michael L.
Gepubliceerd in: (2000)

Essentials of electronic testing for digital, memory, and mixed-signal VLSI circuits
door: Bushnell, Michael L.
Gepubliceerd in: (2000)

VLSI testing : digital and mixed analogue/digital techniques /
door: Hurst, Stanley L.
Gepubliceerd in: (1998)

VLSI testing : digital and mixed analogue/digital techniques /
door: Hurst, Stanley L.

Power-constrained testing of VLSI circuits /
door: Nicolici, Nicola
Gepubliceerd in: (2003)

VLSI test principles and architectures : design for testability /
Gepubliceerd in: (2006)

VLSI test principles and architectures design for testability
Gepubliceerd in: (2006)

VLSI test principles and architectures design for testability
Gepubliceerd in: (2006)

VLSI test principles and architectures : design for testability /
Gepubliceerd in: (2006)

Iddq testing for CMOS VLSI /
door: Rajsuman, Rochit
Gepubliceerd in: (1995)

Digital circuit testing and testability /
door: Lala, Parag K.
Gepubliceerd in: (1997)

Design & test techniques for VLSI & WSI circuits
Gepubliceerd in: (1989)

Design & test techniques for VLSI & WSI circuits
Gepubliceerd in: (1989)

Genetic algorithms for VLSI design, layout and test automation /
door: Mazumder, Pinaki
Gepubliceerd in: (1999)

Mixed analog-digital VLSI devices and technology /
door: Tsividis, Yannis
Gepubliceerd in: (2002)

Mixed analog-digital VLSI devices and technology /
door: Tsividis, Yannis
Gepubliceerd in: (2002)

Nanometer technology designs : high-quality delay tests /
door: Tehranipoor, Mohammad
Gepubliceerd in: (2008)

VLSI-design of non-volatile memories /
door: Campardo, Giovanni
Gepubliceerd in: (2005)

High-level test synthesis of digital VLSI circuits /
door: Lee, Mike Tien - Chien
Gepubliceerd in: (1997)

Wafer-level testing and test during burn-in for integrated circuits / Sudarshan Bahukudumbi, Krishnendu Chakrabarty.
door: Bahukudumbi, Sudarshan
Gepubliceerd in: (2010)

High-Level synthesis of digital VLSI circuits /
door: Lee, Mike Tien-Chien
Gepubliceerd in: (1997)

Introduction to VLSI testing /
door: Feugate, Robert J.
Gepubliceerd in: (1988)

Genetic algorithms for VLSI design, layout & test automation
door: Mazumder, Pinaki
Gepubliceerd in: (1999)

Genetic algorithms for VLSI design, layout and test automation /
door: Mazumder, Pinaki
Gepubliceerd in: (1999)

Genetic algorithms for VLSI design, layout & test automation
door: Mazumder, Pinaki
Gepubliceerd in: (1999)

Mixed analog-digital VLSI devices and technology
door: Tsividis, Yannis
Gepubliceerd in: (2002)

Mixed analog-digital VLSI devices and technology
door: Tsividis, Yannis
Gepubliceerd in: (2002)

Mixed analog-digital VLSI devices and technology /
door: Tsividis, Yannis
Gepubliceerd in: (2002)

An introduction to mixed-signal IC test and measurement
door: Burns, Mark
Gepubliceerd in: (2001)

An introduction to mixed-signal IC test and measurement
door: Burns, Mark
Gepubliceerd in: (2001)

Digital circuit testing and testability
door: Lala, Parag K.
Gepubliceerd in: (1997)

Digital circuit testing and testability
door: Lala, Parag K.
Gepubliceerd in: (1997)

VLSI digital signal processing systems : design and implementation /
door: Parhi, Keshab K.
Gepubliceerd in: (1999)

VLSI digital signal processing systems : design and implementation /
door: Parhi, Keshab K, 1959-
Gepubliceerd in: (1999)

VLSI digital signal processing systems design and implementation
door: Parhi
Gepubliceerd in: (1999)

VLSI digital signal processing systems design and implementation
door: Parhi
Gepubliceerd in: (1999)

Genetic algorithm for very large scale integration (VLSI) test generation
door: Wong, Yan Chiew
Gepubliceerd in: (2009)

Genetic algorithm for very large scale integration (VLSI) test generation
door: Wong, Yan Chiew
Gepubliceerd in: (2009)

The design and analysis of VLSI circuits /
door: Glasser, Lance A.
Gepubliceerd in: (1985)