Essentials of electronic testing for digital, memory, and mixed-signal VLSI circuits /
Bewaard in:
Hoofdauteur: | Bushnell, Michael L. (Michael Lee), 1950- (Auteur) |
---|---|
Andere auteurs: | Agrawal, Vishwani D., 1943- |
Formaat: | Boek |
Taal: | English |
Gepubliceerd in: |
Boston
Springer
2000.
|
Reeks: | Frontiers in electronic testing;
17 |
Onderwerpen: | |
Online toegang: | Click here to view the full text content |
Tags: |
Voeg label toe
Geen labels, Wees de eerste die dit record labelt!
|
Gelijkaardige items
-
Essentials of electronic testing for digital, memory, and mixed-signal VLSI circuits /
door: Bushnell, Michael L.
Gepubliceerd in: (2000) -
Essentials of electronic testing for digital, memory, and mixed-signal VLSI circuits
door: Bushnell, Michael L.
Gepubliceerd in: (2000) -
Essentials of electronic testing for digital, memory, and mixed-signal VLSI circuits
door: Bushnell, Michael L.
Gepubliceerd in: (2000) -
VLSI testing : digital and mixed analogue/digital techniques /
door: Hurst, Stanley L.
Gepubliceerd in: (1998) -
VLSI testing : digital and mixed analogue/digital techniques /
door: Hurst, Stanley L.