Essentials of electronic testing for digital, memory, and mixed-signal VLSI circuits /

Essentials of electronic testing for digital, memory, and mixed-signal VLSI circuits /

Показати інші версії (3)

Збережено в:

Бібліографічні деталі
Автор:	Bushnell, Michael L. (Michael Lee), 1950- (Автор)
Інші автори:	Agrawal, Vishwani D., 1943-
Формат:	Книга
Мова:	English
Опубліковано:	Boston Springer 2000.
Серія:	Frontiers in electronic testing; 17
Предмети:	Integrated circuits > Very large scale integration > Testing. Digital integrated circuits > Testing. Mixed signal circuits > Testing. Semiconductor storage devices > Testing.
Онлайн доступ:	Click here to view the full text content
Теги:	Додати тег Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!

Схожі ресурси

Essentials of electronic testing for digital, memory, and mixed-signal VLSI circuits /
за авторством: Bushnell, Michael L.
Опубліковано: (2000)

Essentials of electronic testing for digital, memory, and mixed-signal VLSI circuits
за авторством: Bushnell, Michael L.
Опубліковано: (2000)

Essentials of electronic testing for digital, memory, and mixed-signal VLSI circuits
за авторством: Bushnell, Michael L.
Опубліковано: (2000)

VLSI testing : digital and mixed analogue/digital techniques /
за авторством: Hurst, Stanley L.
Опубліковано: (1998)

VLSI testing : digital and mixed analogue/digital techniques /
за авторством: Hurst, Stanley L.

Power-constrained testing of VLSI circuits /
за авторством: Nicolici, Nicola
Опубліковано: (2003)

VLSI test principles and architectures : design for testability /
Опубліковано: (2006)

VLSI test principles and architectures design for testability
Опубліковано: (2006)

VLSI test principles and architectures design for testability
Опубліковано: (2006)

VLSI test principles and architectures : design for testability /
Опубліковано: (2006)

Iddq testing for CMOS VLSI /
за авторством: Rajsuman, Rochit
Опубліковано: (1995)

Digital circuit testing and testability /
за авторством: Lala, Parag K.
Опубліковано: (1997)

Design & test techniques for VLSI & WSI circuits
Опубліковано: (1989)

Design & test techniques for VLSI & WSI circuits
Опубліковано: (1989)

Genetic algorithms for VLSI design, layout and test automation /
за авторством: Mazumder, Pinaki
Опубліковано: (1999)

Mixed analog-digital VLSI devices and technology /
за авторством: Tsividis, Yannis
Опубліковано: (2002)

Mixed analog-digital VLSI devices and technology /
за авторством: Tsividis, Yannis
Опубліковано: (2002)

Nanometer technology designs : high-quality delay tests /
за авторством: Tehranipoor, Mohammad
Опубліковано: (2008)

VLSI-design of non-volatile memories /
за авторством: Campardo, Giovanni
Опубліковано: (2005)

High-level test synthesis of digital VLSI circuits /
за авторством: Lee, Mike Tien - Chien
Опубліковано: (1997)

Wafer-level testing and test during burn-in for integrated circuits / Sudarshan Bahukudumbi, Krishnendu Chakrabarty.
за авторством: Bahukudumbi, Sudarshan
Опубліковано: (2010)

High-Level synthesis of digital VLSI circuits /
за авторством: Lee, Mike Tien-Chien
Опубліковано: (1997)

Introduction to VLSI testing /
за авторством: Feugate, Robert J.
Опубліковано: (1988)

Genetic algorithms for VLSI design, layout & test automation
за авторством: Mazumder, Pinaki
Опубліковано: (1999)

Genetic algorithms for VLSI design, layout and test automation /
за авторством: Mazumder, Pinaki
Опубліковано: (1999)

Genetic algorithms for VLSI design, layout & test automation
за авторством: Mazumder, Pinaki
Опубліковано: (1999)

Mixed analog-digital VLSI devices and technology
за авторством: Tsividis, Yannis
Опубліковано: (2002)

Mixed analog-digital VLSI devices and technology
за авторством: Tsividis, Yannis
Опубліковано: (2002)

Mixed analog-digital VLSI devices and technology /
за авторством: Tsividis, Yannis
Опубліковано: (2002)

An introduction to mixed-signal IC test and measurement
за авторством: Burns, Mark
Опубліковано: (2001)

An introduction to mixed-signal IC test and measurement
за авторством: Burns, Mark
Опубліковано: (2001)

Digital circuit testing and testability
за авторством: Lala, Parag K.
Опубліковано: (1997)

Digital circuit testing and testability
за авторством: Lala, Parag K.
Опубліковано: (1997)

VLSI digital signal processing systems : design and implementation /
за авторством: Parhi, Keshab K.
Опубліковано: (1999)

VLSI digital signal processing systems : design and implementation /
за авторством: Parhi, Keshab K, 1959-
Опубліковано: (1999)

VLSI digital signal processing systems design and implementation
за авторством: Parhi
Опубліковано: (1999)

VLSI digital signal processing systems design and implementation
за авторством: Parhi
Опубліковано: (1999)

Genetic algorithm for very large scale integration (VLSI) test generation
за авторством: Wong, Yan Chiew
Опубліковано: (2009)

Genetic algorithm for very large scale integration (VLSI) test generation
за авторством: Wong, Yan Chiew
Опубліковано: (2009)

The design and analysis of VLSI circuits /
за авторством: Glasser, Lance A.
Опубліковано: (1985)