Essentials of electronic testing for digital, memory, and mixed-signal VLSI circuits /

Essentials of electronic testing for digital, memory, and mixed-signal VLSI circuits /

Hiển thị phiên bản (3) khác
Đã lưu trong:
Chi tiết về thư mục
Tác giả chính: Bushnell, Michael L. (Michael Lee), 1950- (Tác giả)
Tác giả khác: Agrawal, Vishwani D., 1943-
Định dạng: Sách
Ngôn ngữ:English
Được phát hành: Boston Springer 2000.
Loạt:Frontiers in electronic testing; 17
Những chủ đề:
Integrated circuits > Very large scale integration > Testing.
Digital integrated circuits > Testing.
Mixed signal circuits > Testing.
Semiconductor storage devices > Testing.
Truy cập trực tuyến:Click here to view the full text content
Các nhãn: Thêm thẻ
Không có thẻ, Là người đầu tiên thẻ bản ghi này!
Search Result 1
Essentials of electronic testing for digital, memory, and mixed-signal VLSI circuits /
Bằng Bushnell, Michael L.
Được phát hành 2000
Sách
Lưu vào danh sách
Đã lưu trong:
Search Result 2
Essentials of electronic testing for digital, memory, and mixed-signal VLSI circuits
Bằng Bushnell, Michael L.
Được phát hành 2000
Sách
Lưu vào danh sách
Đã lưu trong:
Search Result 3
Essentials of electronic testing for digital, memory, and mixed-signal VLSI circuits
Bằng Bushnell, Michael L.
Được phát hành 2000
Sách
Lưu vào danh sách
Đã lưu trong:
Hiển thị tất cả phiên bản (4) khác

Những quyển sách tương tự