Essentials of electronic testing for digital, memory, and mixed-signal VLSI circuits /

Essentials of electronic testing for digital, memory, and mixed-signal VLSI circuits /

Pokaż inne wersje (3)
Zapisane w:
Opis bibliograficzny
1. autor: Bushnell, Michael L. (Michael Lee), 1950- (Autor)
Kolejni autorzy: Agrawal, Vishwani D., 1943-
Format: Książka
Język:English
Wydane: Boston Springer 2000.
Seria:Frontiers in electronic testing; 17
Hasła przedmiotowe:
Integrated circuits > Very large scale integration > Testing.
Digital integrated circuits > Testing.
Mixed signal circuits > Testing.
Semiconductor storage devices > Testing.
Dostęp online:Click here to view the full text content
Etykiety: Dodaj etykietę
Nie ma etykietki, Dołącz pierwszą etykiete!
Search Result 1
Essentials of electronic testing for digital, memory, and mixed-signal VLSI circuits /
od Bushnell, Michael L.
Wydane 2000
Książka
Dodaj do listy ulubionych książek
Zapisane w:
Search Result 2
Essentials of electronic testing for digital, memory, and mixed-signal VLSI circuits
od Bushnell, Michael L.
Wydane 2000
Książka
Dodaj do listy ulubionych książek
Zapisane w:
Search Result 3
Essentials of electronic testing for digital, memory, and mixed-signal VLSI circuits
od Bushnell, Michael L.
Wydane 2000
Książka
Dodaj do listy ulubionych książek
Zapisane w:
Pokaż wszystkie wersje (4)

Podobne zapisy