Essentials of electronic testing for digital, memory, and mixed-signal VLSI circuits /

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Bushnell, Michael L. (Michael Lee), 1950- (VerfasserIn)
Weitere Verfasser: Agrawal, Vishwani D., 1943-
Format: Buch
Sprache:English
Veröffentlicht: Boston Springer 2000.
Schriftenreihe:Frontiers in electronic testing; 17
Schlagworte:
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