Essentials of electronic testing for digital, memory, and mixed-signal VLSI circuits /

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書誌詳細
第一著者: Bushnell, Michael L. (Michael Lee), 1950- (著者)
その他の著者: Agrawal, Vishwani D., 1943-
フォーマット: 図書
言語:English
出版事項: Boston Springer 2000.
シリーズ:Frontiers in electronic testing; 17
主題:
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