Failure-free integrated circuit packages : systematic elimination of failures through reliability engineering, failure analysis, and material improvements /

Zapisane w:
Opis bibliograficzny
Kolejni autorzy: Cohn, Charles, Harper, Charles A.
Format: Książka
Język:English
Wydane: New York McGraw-Hill 2005
Hasła przedmiotowe:
Etykiety: Dodaj etykietę
Nie ma etykietki, Dołącz pierwszą etykiete!

Z powodu przeglądu technicznego niedostępne

Niestety! Z powodu przeglądu technicznego system jest niedostępny.

Niestety! Status dostępu obecnie nie stoi do dyspozycji - skontaktuj się z biblioteką.

david@pintaran.my