Scanning Auger electron microscopy /

Scanning Auger electron microscopy /

Bewaard in:

Bibliografische gegevens
Andere auteurs:	Prutton, M., El Gomati, Mohamed M.
Formaat:	Boek
Taal:	English
Gepubliceerd in:	Hoboken, NJ John Wiley & Sons c2006.
Onderwerpen:	Scanning Auger electron microscopy.
Online toegang:	Click here to view the full text content
Tags:	Voeg label toe Geen labels, Wees de eerste die dit record labelt!

Gelijkaardige items

Scanning electrochemical microscopy /
Gepubliceerd in: (2001)

Roadmap of scanning probe microscopy /
Gepubliceerd in: (2007)

Scanning transmission electron microscopy : imaging and analysis/
Gepubliceerd in: (2011)

Scanning electrochemical microscopy /
Gepubliceerd in: (2012)

Scanning electrochemical microscopy /
Gepubliceerd in: (2012)

Scanning probe microscopy /

Scanning microscopy for nanotechnology : techniques and applications /
Gepubliceerd in: (2007)

Scanning electrochemical microscopy
Gepubliceerd in: (2001)

Scanning electrochemical microscopy
Gepubliceerd in: (2001)

Roadmap of scanning probe microscopy /
Gepubliceerd in: (2007)

Scanning probe microscopy : the lab on a tip /
door: Meyer, Ernst
Gepubliceerd in: (2004)

Scanning electrochemical microscopy
Gepubliceerd in: (2012)

Scanning electrochemical microscopy
Gepubliceerd in: (2012)

Scanning probe microscopy : atomic scale engineering by forces and currents /
door: Foster, A. (Adam Stuart), 1975-
Gepubliceerd in: (2006)

New horizons of applied scanning electron microscopy
door: Shimizu, Kenichi
Gepubliceerd in: (2010)

New horizons of applied scanning electron microscopy
door: Shimizu, Kenichi
Gepubliceerd in: (2010)

Scanning probe microscopies beyond imaging : manipulation of molecules and nanostructures /

Scanning microscopy for nanotechnology : techniques and applications /
Gepubliceerd in: (2007)

Scanning microscopy for nanotechnology techniques and applications
Gepubliceerd in: (2007)

Scanning microscopy for nanotechnology techniques and applications
Gepubliceerd in: (2007)

Scanning probe microscopy atomic scale engineering by forces and currents
door: Foster, A.
Gepubliceerd in: (2006)

Scanning probe microscopy atomic scale engineering by forces and currents
door: Foster, A.
Gepubliceerd in: (2006)

Scanning probe microscopy in nanoscience and nanotechnology /
Gepubliceerd in: (2010)

Scanning probe microscopy in nanoscience and nanotechnology /
Gepubliceerd in: (2010)

Scanning electron microscopy /
Gepubliceerd in: (2015)

Analisa kuantitatif dengan menggunakan scanning elektron mikroskop (SEM) /
door: Mohamad Lothfi Bin Yaakob
Gepubliceerd in: (1996)

Quantitative data processing in scanning probe microscopy SPM applications for nanometrology
door: Klapetek, Petr
Gepubliceerd in: (2013)

Quantitative data processing in scanning probe microscopy SPM applications for nanometrology
door: Klapetek, Petr
Gepubliceerd in: (2013)

Scanning probe microscopes : applications in science and technology /
door: Birdi, K. S.
Gepubliceerd in: (2003)

Scanning probe microscopes : applications in science and technology /
door: Birdi, K. S., 1934-
Gepubliceerd in: (2003)

Modeling nanoscale imaging in electron microscopy /
Gepubliceerd in: (2012)

Analisa kuantitatif dengan menggunakan scanning elektron mikroskop (SEM) /
door: Mohamad Lothfi Bin Yaakob
Gepubliceerd in: (1996)

Hybridizing surface probe microscopies : toward a full description of the meso- and nanoworlds /
door: Moreno-Flores, Susan
Gepubliceerd in: (2013)

Scanning tunneling microscopy in surface science, nanoscience and catalysis
Gepubliceerd in: (2010)

Scanning tunneling microscopy in surface science, nanoscience and catalysis
Gepubliceerd in: (2010)

Scanning probe microscopes applications in science and technology
door: Birdi, K. S.
Gepubliceerd in: (2003)

Scanning probe microscopes applications in science and technology
door: Birdi, K. S.
Gepubliceerd in: (2003)

Electron microscopy and analysis /
door: Goodhew, Peter J.
Gepubliceerd in: (2001)

Electron microscopy and analysis /
door: Goodhew, Peter J.
Gepubliceerd in: (2001)

Electron microscopy and analysis /
door: Goodhew, Peter J.