Surface and grain size characterization of gallium and tantalum doped Ba0.5Sr0.5TiO3 Thin film using atomic force microscope (AFM)
Պահպանված է:
Հիմնական հեղինակ: | Safinah Nor Bt Jusoh (Հեղինակ) |
---|---|
Ձևաչափ: | Գիրք |
Լեզու: | English |
Խորագրեր: | |
Ցուցիչներ: |
Ավելացրեք ցուցիչ
Չկան պիտակներ, Եղեք առաջինը, ով նշում է այս գրառումը!
|
Նմանատիպ նյութեր
-
A study on surface roughness and morphology of Gallium Oxide Doped Ba0.5 Sr0.5 Ti03 thin film
: Fadrul Hisham Mohd Fauzi -
Structural & electrical characterization of Ba(0.5)S(0.5)Tio3 thin films in effect annealing temperature
: Ramadhan Adnan -
Effect of annealing temperature and dopant concertration on the surface layer of indium doped Ba0.5Sr0.5Ti03 thin film
: Noor Khairul Anuar Johari -
Penghasilan katod komposit barium strontium kobalt ferit (Ba0.5 Sr0.5 Co0.8 Fe0.2 O3) Samaria Terdop Seri Karbonat (SDCC) /
: Mohamed Hakim Ahmad Shah
Հրապարակվել է: (2015) -
Pengaruh suhu kalsium terhadap serbuk komposit barium strontium kobalt ferit (Ba0.5 Sr0.5 Co0.8 Fe0.2)- samarium terdop seria karbonat (SDCC)/
: Shaibool Afandi Ladim
Հրապարակվել է: (2016)