Surface and grain size characterization of gallium and tantalum doped Ba0.5Sr0.5TiO3 Thin film using atomic force microscope (AFM)
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मुख्य लेखक: | Safinah Nor Bt Jusoh (लेखक) |
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स्वरूप: | पुस्तक |
भाषा: | English |
विषय: | |
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