Surface and grain size characterization of gallium and tantalum doped Ba0.5Sr0.5TiO3 Thin film using atomic force microscope (AFM)

Guardat en:
Dades bibliogràfiques
Autor principal: Safinah Nor Bt Jusoh (Autor)
Format: Llibre
Idioma:English
Matèries:
Etiquetes: Afegir etiqueta
Sense etiquetes, Sigues el primer a etiquetar aquest registre!