Surface and grain size characterization of gallium and tantalum doped Ba0.5Sr0.5TiO3 Thin film using atomic force microscope (AFM)
Saved in:
Hovedforfatter: | |
---|---|
Format: | Bog |
Sprog: | English |
Fag: | |
Tags: |
Tilføj Tag
Ingen Tags, Vær først til at tagge denne postø!
|
Vær først til at give en kommentarø!