Principles of semiconductor network testing

This book gathers together comprehensive information which test and process professionals will find invaluable. The techniques outlined will help ensure that test methods and data collected reflect actual device performance, rather than 'testing the tester' or being lost in the noise floor...

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Detalles Bibliográficos
Autor principal: Afshar, Amir (Autor)
Formato: Electrónico Software eBook
Lenguaje:English
Materias:
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