Characterization of electroless under bump metallury for AlSi bond pad composition
The characterization of electroless under bump metallurgy for AlSi bond pad composition in term of surface morphology and surface roughness was investigated. By using the sample given, the gold layer need to be deposited on top on AlSi first. To deposit the gold layer, there are seven set-up proc...
محفوظ في:
المؤلف الرئيسي: | Norahmad Barzrul Basaruddin (مؤلف) |
---|---|
التنسيق: | الكتروني برمجيات قاعدة البيانات |
اللغة: | English |
الموضوعات: | |
الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|
مواد مشابهة
-
MIMOS Berhad Technology Park
بواسطة: Norahmad Barzrul Basaruddin
منشور في: (2006) -
Simulation, fabrication and electrical characterization of p-Si capacitor design structure
بواسطة: Cherly, She Siew Yuet -
Single cyrstal SiC capacitive pressure sensor
بواسطة: Ruhaizi Mohd Hatta -
Microfluidic poly-si electrodes capacitor (fabricate & testing)
بواسطة: Esmal Fhadly Abd Malek -
Study the effect of bird's beak on fully recessed locos and poly buffered locos using 2 different pad oxide
بواسطة: Hafizal Hafiz Sarjoni