Reactive ion etching (RIE) etched wet-silica-on-silicon analysis for fluidwettability
The objective of this project is to analyze fluid wettability with water droplets testing on etched silicon thus to observe the characterization on wafer surface profile of RIE etched wet-silica-on-silicon using Atomic Force Microscope (AFM).
Сохранить в:
| Главный автор: | |
|---|---|
| Формат: | Электронный ресурс Программное обеспечение База данных |
| Язык: | English |
| Предметы: | |
| Метки: |
Добавить метку
Нет меток, Требуется 1-ая метка записи!
|
| Итог: | The objective of this project is to analyze fluid wettability with water droplets testing on etched silicon thus to observe the characterization on wafer surface profile of RIE etched wet-silica-on-silicon using Atomic Force Microscope (AFM). |
|---|---|
| Примечание: | Final Year Project |
| Объем: | 1 CD-ROM 4 3/4 in. |