Analysis of deposited carbon based on electron beam induced deposition in scanning electron microscopy using secondary ion mass spectrometry
Many experiments on the mechanics of nanostructures require the creation of rigid clamps at specific locations. In this final year project, electron beam induced deposition (EBID) has been used to deposit carbon films that are similar to those that have recently been used for clamping nanostructures...
Guardat en:
| Autor principal: | |
|---|---|
| Format: | Electrònic Software Base de dades |
| Idioma: | English |
| Matèries: | |
| Etiquetes: |
Afegir etiqueta
Sense etiquetes, Sigues el primer a etiquetar aquest registre!
|
Sistema fora de servei per tasques de manteniment
El catàleg està fora de servei temporalment per tasques de manteniment
La informació de disponibilitat dels exemplars no està disponible en aquests moments, sentim les inconveniències: