Analysis of deposited carbon based on electron beam induced deposition in scanning electron microscopy using secondary ion mass spectrometry
Many experiments on the mechanics of nanostructures require the creation of rigid clamps at specific locations. In this final year project, electron beam induced deposition (EBID) has been used to deposit carbon films that are similar to those that have recently been used for clamping nanostructures...
Uloženo v:
| Hlavní autor: | |
|---|---|
| Médium: | Elektronický zdroj Program Databáze |
| Jazyk: | English |
| Témata: | |
| Tagy: |
Přidat tag
Žádné tagy, Buďte první, kdo otaguje tento záznam!
|
Právě probíhá údržba systému
Právě probíhá údržba knihovního systému.
V současné době nejsou dostupné informace o dostupnosti. Omlouváme se Vám za nepříjemnosti. Neváhejte nás kontaktovat a my se pokusíme zjistit požadované informace jinou cestou: